Руководство эксплуатации микроскопа SM XX Carl Zeiss Jena

В виде стереомикроскопа SM XX Вы приобрели один из благонадежных и испытанных во многих областях науки и техники стереомикроскоп. Теперь оптимальное использование возможностей микроскопа лежит в Ваших руках. Настоящая инструкция должна Вам помочь при этом по лучшим силам. Причиной большой популярности стереомикроскопа SM XX является его оптическая конструкция, которая при общем диапазоне увеличения 4Х . . . 100Х при полях зрения диаметром 44 … 2 мм обеспечивает не изменяющееся рабочее расстояние 100 мм.

Рукоятка для быстрой смены кратности увеличения в виде барабана, позволяющая переключение на увеличения 0,63; 1,0; 1,6; 2,5; 4,0; т. е. общий фактор 6,3; особенно бросается в глаза наблюдателя.

Применением трех имеющихся пар окуляров можно осуществить всего 15 разных увеличений.

Таблица увеличений

Для более легкого и быстрого определения общего увеличения при частой смене кратности увеличения служит таблица на правой стороне коробки микромеханизма. Простая конструкция штатива позволяет пользоваться всеми возможностями применения в отраженном, проходящем и комбинированном свете и проводить комплектование микроскопа для множества областей применения. Она позволяет его приспособление к машинам, технологическим и контрольным устройствам самых разных видов, электронным микроскопам, ультрамикротомам, стереотаксиальным приборам и бесчисленным другим техническим и научным приборам и устройствам.

Стереомикроскоп SM XX а

Конструкция прибора видна из рис. 2. После ослабления зажимного винта (4) коробка микромеханизма (6) вдоль колонки (3) может перемещаться по высоте на приблизительно 70 мм и опять зажиматься. Эта имеющаяся возможность грубого перемещения служит для приспособления микроскопа к ра шичным юлщинам объектов. При использовании этого отрезка и диапазона перемещения микромеханизма (5) длиной 37 мм имеется возможность исследован. и обмжты толщиной 80 мм и такие объекты, на которые можно ставить микроскоп. Дли >тои цели вставной диск (19) вынимают из основания. Плавность хода микромеханизма изменяют путем фиксирования рукой ценой рукоятки микромеханизма и одновременного вращения праиой, Иращеииг по часовой стрелке дает тяжелый ход, против часовой стрелки более лен<ии Гака и конструкция делает возможным отрегулирование микромохани im.i по индипидуоль-ным желаниям каждого наблюдателя и препятствует опусканию и < лучое yi гамовки дополнительных устройств. Бинокулярный наклонный тубус (II) поело ослабления своего зажимного винта (12) может переставляться на 180 или шмоняп.с и ма промежуточный тубус для микрофотонасадки mf (рис. 10). На патрубке правого окуляра находится кольцо для устаноики диотрии (И), которое служит компенсацией индивидуальных ошибок зрения. Им ноль iyioi< ч < лодующим образом: 1. Наблюдая левым глазом только в левый окуляр, посред( том мимромеханизма фокусируют микроскоп на исследуемый объект. 2, Наблюдая правым глазом в правый окуляр, посредсшом кольца дли установки диоптрии (8) без использования микромеханизма окончательно фокусируют микроскоп. Шкалы на установочном кольце и патрубке окуляра представляют собой маркировочные шкалы для индивидуальной установки окуляром 6,1 и 25 . Относительно приема в случае окуляра 12,5 < см. стр. 8. Расстояние между глазами наблюдателя устанавливается рапиоморным попоротом патрубков окуляров. Диапазон перестановки лежит и пределах 48 . . 72 мм. Конвергенция вида сохраняется в каждом положении. Правильная установка кольца для установки диоптрии и расстояния между г лазами наблюдателя является необходимой предпосылкой для получения естественного стереоскопического »ф-фекта. Смена кратности увеличения осуществляется при помощи рукоятки для быстрой смены кратности увеличения (15). Число, находящееся напротив белого индекса на корпусе, показывает увеличение системы объективов, включенное в данный момент. Осветитель (17) может поворачиваться на приблизительно 300 вокруг оптической оси и его наклон меняться от горизонтали для работы в проходящем свете до сильно наклонного положения для работы в отраженном свете. Плавность хода шарниров держателя осветителя изменяют с помощью предусмотренных для этой цели винтов со шлицевыми головками (13). Вставной диск (19) в основании имеет матовую черную и матовую белую стороны для того, чтобы добиться хорошей контрастности по отношению к объектам с различными оттенками.

Вместо вставного диска в основание могут вставляться другие объектодержатели. Столик на сферической опоре (рис. 3) наблюдателю должен дать возможность исследовать объекты в отраженном свете при освещении под разными углами. Максимальный угол опрокидывания составляет 22,1°, предметный столик диаметром 110 мм поворачивается на 360°.

Основание (20) столика на сферической опоре вставляется в основание микроскопа и укрепляется предусмотренными для этого зажимами (21).

В качестве вспомогательного средства для прикрепления объекта могут использоваться пружины предметного столика (2), но в случае необходимости и пластилин, масло, клеящий воск или другое.

Устройство для проверки опорных камней (рис. 4) должно облегчить наблюдение и оценку маленьких твердых объектов, длина ребр которых составляет 1,0 … 4,5 мм. Оно делает возможным вращение объекта на 360 без бокового или вертикального перемещения и опрокидывание на 90 . Основание (22) устройства вставляется в основание микроскопа и укрепляется предусмотренными для этой цели зажимами (21).

Вращение кольца с рифлением (25) способствует вращению зажимной цанги на 360 , прижатие книзу к пружине — открывание ее зажимных щек. После ослабления контргайки (23) при помощи кольца с рифлением (24) объект перемещается по высоте в пределах приблизительно 10 мм. В случае опрокидывания объекта на 90 это перемещение по высоте превращается в горизонтальное движение. Перемещение осуществляется с помощью мелкой резьбы. Зажимный винт (26) служит для фиксирования требуемого наклона объекта.

Подставка для проходящего света (рис. 5) используется для визуального наблюдения объектов в проходящем свете. Она вставляется в отверстие основания микроскопа и зажимами (21) фиксируется в этом положении. Стеклянный диск (28) не прикрепляется к подставке.

Источником света служит лампочка 6 в 15 вт (27) осветителя для работы в отраженном свете, которая вместе с патроном вводится в соответствующее отверстие для укрепления в подставке для проходящего света. Внутренняя белая лакировка подставки обеспечивает диффузное освещение объекта проходящим светом. Подставка для проходящего света не предусмотрена для микрофотографических целей.

Стереомикроскоп SM XX и

Стереомикроскоп SM XX и отличается от стереомикроскопа SM XX а штативом с более длинной колонкой и приспособлением для установки серийных предметных столиков. С помощью SM XX и можно проводить наблюдения в направленном проходящем свете, в отраженном свете и в комбинированном отраженном и проходящем свете.

Конструкция и освещение видны из рис. 6. Держатель предметного столика (30) может ослабляться при помощи торцового ключа, который поставляется вместе с микроскопом, и сниматься, так что стереомикроскоп SM XX и после обмена осветительного зеркала с опорной плитой (29) на вставной диск можно применять для наблюдений в отраженном свете. Предметный столик (31) может заменяться другими типами предметных столиков, например скользящим столиком, поворотным предметным столиком или крестовым столиком с приспособлением для быстрой смены.

Помимо освещения в отраженном и проходящем свете при использовании осветителя для микроскопирования на штативе применимо и комбинированное освещение в отраженном и проходящем свете, так называемое смешанное освещение. Согласованием светотехнических свойств и направлений падения света примененных осветителей добиваются световых эффектов, облегчающих стереоскопическое изображение сложных объектов.

Применимость сильных осветителей для микроскопирования с помощью зеркала (29) дает благоприятные возможности для микрофотографии. Переоборудованием стереомикроскопа SM XX и с помощью устройства для наблюдения с двух сторон осуществляется одновременное наблюдение верхней и нижней сторон объектов толщиной до 15 мм (рис. 7). Вогнутое зеркало изображает нижнюю сторону объекта в плоскости объекта, освещение задней стороны происходит при помощи осветителя для отраженного света через передвижное осветительное зеркало. Относительно конструкции и обслуживания устройства смотрите наш проспект 30-G161.

Стереомикроскоп SM XX pol

Поляризационное устройство к стереомикроскопу SM XX (рис. 8) состоит из насадки с поворотным столиком (34) со шкалой и нониусом, в которой под стеклянным предметным диском с минимальными напряжениями находится «клееный с определенной ориентацией светофильтр-поляризатор диаметром 48 мм, насаживаемого на столик объектодержателя (36) для маленьких твердых объектов и насаживаемого на фронтальную оправу микроскопа светофильтра-анализатора (35). Устройство монтируют следующим образом (рис. 9):

Подставка для проходящего света (37) вставляется в основание микроскопа и укрепляется зажимами (21) таким образом, что ламповый патрон находится в оси симметрии микроскопа. Ее стеклянный вставной диск (28 рис. 5) вынимается. Насадка с поворотным столиком (34) устанавливается на подставке для проходящего света так, чтобы котировочный винт на нижней стороне насадки так входил в одно из отверстий пружин предметного столика, чтобы индекс (38) и зажимный винт (39) распологались симметрично к колонке штатива.

Таким образом направление колебания поляризатора приходит в обычное положение север-юг.

Светофильтр-анализатор (35) насаживается на фронтальную оправу и вращается до тех пор, пока не получится положение гашения относительно поляризатора в насадке с поворотным столиком (34). Направления колебания обеих поляризационных фольг скрещены в этом положении.

Объектодержатель (36) служит держателем и водителем для маленьких твердых объектов, как например кристаллов и осколков. Он вставляется в предусмотренные для этой цели отверстия в насадке с поворотным столиком и привинчивается. При вдавливании штифта в ось приспособления открывается проволочный захват, служащий для установки объектов диаметром 2 … 6 мм.

Головка захвата может поворачиваться на 360° вокруг своей горизонтальной оси и перемещаться вперед и назад. Эти возможности перемещения в связи с вращением столика позволяют устанавливать исследуемый объект в любом положении относительно направления колебания поляризованного света. Вместо объектодержателя может насаживаться препаратоводитель.

Методы воспроизведения изображений

Микрофотография

При изготовлении микрофотографических снимков при любом виде освещения находят применение части микрофотонасадки mf (рис. 10). Подробные указания по обслуживанию Вы найдете в нашем проспекте 30-G605.

При помощи стереомикроскопа SM XX на малоформатной фотопленке осуществимы следующие масштабы изображения:

Приведенные в таблице данные справедливы при применении микрофотонасадки mf 24 X 36, микрофотонасадки mf для получения нескольких снимков и использованных в качестве кассеты стандартных малоформатных фотокамер. В случае применения микрофотонасадки mf 6,5 X 9 данные из таблицы должны быть помножены на фактор 2,5.

Рисование

Применение рисовального аппарата (рис. 11) возможно с промежуточным тубусом (41) для рисовального аппарата к микроскопу SM XX. После визуальной установки объекта и освещения бинокулярный наклонный тубус заменяется промежуточным тубусом, вставляется один из окуляров микроскопа SM XX и зажимается рисовальный аппарат (40). Конструкция рисовального аппарата позволяет выбирать для каждого случая самое удобное расположение микроскопа и плоскости рисования друг относительно друга.

Указания по обслуживанию самого рисовального аппарата Вы найдете в нашем проспекте 30-G205.

Ручные опоры

При применении микроскопа SM XX в любой комплектации в случае необходимости можно пользоваться опорами для обеих рук (рис. 12). Штатив насаживается на рельс ручных опор таким образом, что котировочные штифты (42) входят в соответствующие отверстия в основании микроскопа. Опорные диски (43) установлены на шариковых опорах, они могут опрокидываться на 20° на все стороны и поворачиваться на 360°. Затяжкой зажимного рычага (44) фиксируется любое установленное положение дисков.

Для визуального измерения и счета мы Вам предлагаем следующие принадлежности:

Окуляр 12,5 с диоптрийной установкой (рис. 13) Окулярная измерительная пластинка 10:100 (47 рис. 14)

т. е. шкала длиной 10 мм со 100 делениями Окулярная измерительная пластинка с сеткой 25/1 X 1 (48),

т. е. сетка, состоящая из 25 квадратиков, каждый размером 1 X 1 мм Окулярная измерительная и счетная пластинка (49),

имеющая кроме перекрестья и маркировки в форме окружности две шкалы, каждая длиной 5 мм с 50 делениями, горизонтально исходящие из центра (нулевой точки)

Объект-микрометр 70 0,5 (50),

т. е. шкала длиной 70 мм с делениями через каждое 0,5 мм на подложке 76 мм X 26 мм, в середине которой имеется отрезок длиной 10 мм со 100 делениями. Указания по работе со вспомогательными средствами для измерения Вы можете найти в нашем проспекте 30-G492.

При использовании окуляра 12,5Х с приглазной линзой, имеющей диоптрийную установку, нужно принимать во внимание следующее:

1. Помещается пластина с делениями. Для этого нижнюю часть измерительного окуляра с полевой линзой (46) вывинчивают, пластину с делениями накладывают на полевую диафрагму (так, чтобы гравировка показывала на полевую линзу) и потом окуляр опять собирается. Теперь приглазная линза с диоптрийной установкой (45) фокусируется на пластину с делениями. Для этой цели левым глазом смотрят через окуляр на светлую поверхность и фокусируют приглазную линзу.

2. Устанавливается измерительный окуляр в левом патрубке окуляра.

   3. Устанавливается окуляр 12,5 X в правом патрубке окуляра.

   4. Наблюдая левым глазом в измерительный окуляр, посредством механизма для фокусировки фокусируют микроскоп на объект и юстируют освещение.

   5. Наблюдая правым глазом в правый окуляр, вращением кольца для установки диоптрии окончательно фокусируют микроскоп. В качестве маркировочной шкалы может использоваться шкала для окуляра 6,ЗХ.

   При помощи этих приемов компенсируют индивидуальную разницу глаз и юстируют микроскоп так, чтобы промежуточное изображение, которое должно быть измеренным, совпало с гравировкой пластины с делениями.

   Для исследования больших объектов, наблюдение которых не осуществимо при использовании штативов к микроскопам SM XX а и и, находит применение универсальный штатив (рис. 15). Юстировка и обслуживание штатива происходят в соответствии с проспектом 30-G173.